西安长禾半导体技术有限公司功率器件测试实验室(简称长禾实验室)位于西安市高新技术经济开发区，是一家专业从事功率半导体器件测试服务的高新技术企业，是国家CNAS 认可实验室，属于国家大功率器件测试服务中心。
西安长禾半导体技术有限公司（简称“长禾实验室”），位于中国西部科技创新高地——西安市高新技术产业开发区，是一家专注于功率半导体器件检测与验证的高新技术企业。
作为国家认可委员会（CNAS）正式认证的大功率器件测试服务中心，长禾实验室严格遵循国际标准，致力于为国内外客户提供一站式、全方位的专业测试服务。实验室配备功率半导体测试设备和自动化测试平台，全面覆盖IGBT、MOSFET、二极管、晶闸管等核心功率器件的参数验证、可靠性评估和失效分析。凭借卓越的技术实力和创新能力，已成长为国内少数具备全链条功率器件测试、筛选及老化服务的权威机构之一。业务涵盖了轨道交通、新能源发电（风电、光伏）、新能源汽车、军工国防、工业控制、科研机构等多个领域，为中国核心产业链提供坚实的技术保障。
完善的基础设施和优秀团队一直是实验室强化的重点，实验室核心团队大多来自国内军工行业，研究生占比70%以上，具备深厚的学术背景和丰富的行业经验。在质量控制方面，实验室建立了完善的质量管理体系，严格执行实验室管理标准。每个测试项目均建立了详细的作业指导书，确保测试过程的标准化和可追溯性，数据的准确性和可靠性。
长禾实验室秉持“严谨求实、创新引领、精益求精”的企业精神，致力于推动中国功率半导体产业链的高质量发展，助力打造具备全球竞争力的半导体生态系统。未来，长禾实验室将继续发挥技术和资源优势，立足西安，辐射全国，努力成长为国际一流的功率半导体测试与验证服务平台，助力中国“芯”腾飞！
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开关特性测试（Switch） |
执行标准：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、 GB/T 29332-2012； 试验对象：MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模块； 试验能力：检测z大电压：4500V 检测z大电流：5000A 试验参数：开通/关断时间ton/toff、上升/下降时间tr/tf、开通/关断延迟时间td(on)/td(off)、开通/关断损耗Eon/Eoff、电流尖峰Ic-peak max、电压尖峰Vce-peak max、电压变化率dv/dt、电流变化率di/dt； |
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反向恢复测试（Qrr） |
执行标准：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、 GB/T 29332-2012； 试验对象：DIODE、MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模块； 试验能力：检测z大电压：4500V 检测z大电流：5000A 试验参数：反向恢复电荷Qrr、反向恢复电流Irm、反向恢复时间Trr、反向恢复电流变化率diF/dt、反向恢复损耗Erec； |
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栅极电荷（Qg） |
执行标准：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、 GB/T 29332-2012； 试验对象：MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模块；； 试验能力：检测z大电压：4500V 检测z大电流：5000A 试验参数：栅极电荷Qg、漏极电荷Qgs、源极电荷Qgd； |
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短路耐量（SCSOA） |
执行标准：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、 GB/T 29332-2012； 试验对象：DIODE、MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及IGBT模块器件； 试验能力：检测z大电压：4500V 检测z大电流：10000A 试验参数：短路电流Isc、短路时间Tsc、短路能量Esc； |
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结电容（Cg） |
执行标准：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、 GB/T 29332-2012； 试验对象：MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模块； 试验能力：频率：0.1-1MHz、检测z大电压：1500V； 试验参数：输入电容Ciss、输出电容Coss、反向传输电容Cres； |
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C-V曲线扫描 |
输入电容Ciss-V； 输出电容Coss-V； 反向传输电容Cres-V； |
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栅极电阻（Rg） |
执行标准：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、 GB/T 29332-2012； 试验对象：DIODE、MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及IGBT模块器件； 试验能力：检测z大电压：1500V； 试验参数：栅极等效电阻Rg |
